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原位X射線光電子能譜(XPS)
原位X射線光電子能譜(XPS)
原位X射線光電子能譜(XPS)可進行光照、高溫、加氣氛，電化學的XPS測試。X光電子能譜分析的基本原理是一定能量的X光照射到樣品表面,和待測物質發生作用,可以使待測物質原子中的電子脫離原子成為自由電子。
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　　項目簡介

　　可進行光照、高溫、加氣氛，電化學的XPS測試。

　　結果展示


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　　常見問題

　　??????? 1. XPS譜峰校正標準是什么呢?

　　??????? 一般是以C-C峰284.6ev進行校正的，總譜、分譜是不同的測試方法，所有不是一起校正的，只校正分譜數據，總譜不用校正;價帶譜VB是以剛出峰的位置為0進行校正的;

　　?????????????? 2. 單個元素如果測有不同軌道的譜圖，定量以哪個為準呢?

　　??????? 定量時以元素的特征軌道譜圖為準，如果存在多個軌道，切忌重復計算;若不同元素間軌道有重合，一般需要掃一下元素的非特征軌道來計算含量。

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